Lupen
MM/Radien/Winkel mit Etui unbeschriftet
Die Messlupe F+C 8x MM/Radien/Winkel bietet durch das achromatische Linsensystem eine erstklassige Bildschärfe im gesamten Blickfeld. Das Ablesen der Daten ist durch die spezielle Strichplatte sowohl auf hellem wie auch dunklem Hintergrund möglich. Selbstverständlich können Sie die Lupe stufenlos fokussieren. Durch die geneigte Stellung ist ein hervorragender Lichteintritt in das Lichtfenster möglich. Die Messlupe F+C wird mit einer Strichplatte mit MM/Radien/Winkel und in einem bruchfesten, neutralen Etui geliefert.
| Etui | ohne Beschriftung |
| Lieferfrist | Innerhalb 1 Woche |
| Art. Nr.: | 001.01.12.00005 |
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